爱德万测试推出最新T5835存储测试机，今年底即可出货

半导体测试设备领导供货商爱德万测试（Advantest）宣布，旗下T5800产品系列新推出经济实惠、高同测数存储测试机。最新T5835系统具备5.4Gbps作业速度及大量同测能力，针对现阶段与次世代DRAM核心及高速NAND Flash提供多元广泛的测试解决方案。首批T5835系统预计于今年底前出货给关键客户。

随着易失性与非易失性存储IC的接口速度持续加快，原先中等速度的DRAM核心最终测试速度也持续增加，并在可靠度、测试覆盖率和成本效益之间达到最佳平衡。如今高速组件在进行NAND Flash测试时的接口速度可能超过2 Gbps，预料即将问世的非易失性存储速度甚至将超过4 Gbps。对IC制造商而言，理想的测试解决方案除了要能跟上日益提高的性能要求，还要维持或改善整体测试成本。

最新T5835系统对任何运作速度高达5.4 Gbps的存储都具备完整测试功能，包含各新世代存储NAND Flash闪存、双倍数据率DDR与低功率双倍数据率LPDDR的DRAM芯片都能满足测试需求。此外，T5835系统内建专门的硬件功能，使其能实现领先业界的高产能要求、降低测试成本，针对最终封装级测试更能同时处理768个组件。

T5835系统功能包括DRAM已知良品（KGD）晶圆级测试，针对先进行动内存强化的可编程设计电源供应（PPS），以及实时DQS vs. DQ功能藉以提升良率。

T5835的设计是基于模块强化的T5800系列平台，能使晶圆测试与最终测试的可扩充性、弹性与效能达到优化。这套系统可以设置为研发环境使用的工程机，也能配备小、中或大型测试头，投入在线生产测试。

T5835系统设置承袭爱德万测试现有的存储测试系统，并搭载Future Suite操作系统，提供客户具延续性的测试程序兼容性。这些特点让使用者得以从前代T5800系列无缝接轨，同时又能兼顾生产效率。