Samsung型号为KLMBG4GE2A-A001的eMMC嵌入式存储产品,符合JEDEC发布的JEDEC eMMC 4.5版标准,存储容量为32GB,169-ball BGA封装,且采用自家高性能NAND Flash和VHX2控制器芯片,适用于平板电脑、智能手机、GPS系统,电子阅读器和其他移动计算设备。测试报告中将对该产品进行速度测试、稳定性测试以及常温BurnIn测试等。
电脑编号
|
主板芯片组
|
CPU
|
内存
|
操作系统
|
DHJY-0126-0136
|
AMD A40/A50 Series FCH
|
AMD E-350 Processor
|
4GB DDR3
|
WinXP+SP3
|
E050
|
Intel P35/G33/G31 82801GB(ICH7R)
|
Intel Pentium E6500K
|
2GB DDR2
|
|
EQ01-956
|
Intel G41+82801GB (ICH7/R)
|
Intel Pentium E6500@2.93GHz
|
2GB DDR3
|
WinXP+SP3
|
测试结果:20片样品测试H2test全盘OK。
测试结果:
1.HDBENCH软件测试
USB3.0(RTS5308):
USB2.0(RTS5136):
2、CrystalDiskMark 3.0.1软件测试
3、H2Test软件测试
测试结果:
样品
|
测试模式
|
测试结果
|
5#、8#
|
固定扇区方式超稳定(V1.3)
|
2片分别测试11419次、5920次OK
|
9#、10#
|
随机扇区方式超稳定(V1.8.11)
|
2片分别测试9515次、9689次OK
|
测试结果:
编号
|
待机电流
|
写电流
|
读电流
|
读写后待机
|
||
4K random
|
512K Sequential
|
4K Random
|
512K Sequential
|
|||
6#
|
148µA
|
52.62-147.71mA
Avg:60.11mA
|
92.70-100.78mA
Avg:96.61mA
|
47.03-54.53mA
Avg:52.38mA
|
54.08-63.53mA
Avg:57.75mA
|
157µA
|
7#
|
144µA
|
52.48-149.49mA
Avg:70.75mA
|
91.09-102.36mA
Avg:96.74mA
|
48.39-54.56mA
Avg:52.77mA
|
54.38-64.47mA
Avg:57.97mA
|
151µA
|
编号
|
待机电流
|
编号
|
待机电流
|
1#
|
144µA
|
6#
|
149µA
|
2#
|
149µA
|
7#
|
144µA
|
3#
|
151µA
|
8#
|
145µA
|
4#
|
155µA
|
9#
|
148µA
|
5#
|
151µA
|
10#
|
158µA
|
测试结果:
5.1 常温Burnin测试:BurnIn test File size:1.0%
编号
|
主板芯片组
|
Duration
|
Cycle
|
Error
|
备注
|
读卡器型号
|
5#
|
AMD A40/A50 Series FCH
|
83h30m
|
3675
|
0
|
Default
|
IT1327
|
6#
|
83h30m
|
3896
|
0
|
Default
|
IT1327
|
|
8#
|
AMD A40/A50 Series FCH
|
84h32m
|
1642
|
0
|
Default
|
RTS5308
|
9#
|
84h32m
|
1479
|
0
|
Default
|
RTS5308
|
|
7#
|
AMD A40/A50 Series FCH
|
84h30m
|
1713
|
0
|
Default
|
IT1327
|
10#
|
84h30m
|
1678
|
0
|
Default
|
IT1327
|
|
2#
|
AMD A40/A50 Series FCH
|
84h32m
|
1744
|
0
|
Default
|
IT1327
|
1#
|
11h51m
|
207
|
掉盘
|
Default
|
IT1327
|
|
120h27m
|
2555
|
0
|
Default
|
IT1327
|
||
4#
|
AMD A40/A50 Series FCH
|
72h24m
|
1551
|
0
|
Default
|
IT1327
|
3#
|
39m
|
13
|
Data
|
Default
|
GL828
|
|
116h45m
|
2310
|
0
|
Default
|
GL828
|
||
10片样品测试后匹配预留数据OK,重新上盘拷盘匹配OK
备注:样品测试8片OK,1片测试11h51m 207Cycle时出现掉盘现象,不改变条件重新测试120h27m 2555Cycle没有出错;另1片测试39m 13Cycle时出现数据校验错,重新拷盘匹配OK后,不改变条件重新测试116h45m 2310Cycle没有出错。
|
深圳市闪存市场资讯有限公司 客服邮箱:Service@ChinaFlashMarket.com
CFM闪存市场(ChinaFlashMarket) 版权所有 Copyright©2008-2023 粤ICP备08133127号-2